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SCHLECHTE FÄHIGKEITSWERTE DURCH GROSSE MESSUNSICHERHEITEN

Wie sich die Unsicherheit auf die Prozessfähigkeit auswirkt

04.03.2013: Michael Radeck

In diesem Artikel beschäftigen wir uns mit der Auswirkung der Unsicherheit eines Messprozesses auf die Prozessfähigkeit. Dazu leiten wir uns eine Formel her, welche die Beziehung zwischen dem Fähigkeitsindex Cp und dem Eignungskennwert für den Messprozess QMP nach VDA 5 beschreibt.

Bei unseren Betrachtungen setzen wir für die Vereinfachung des Rechenganges folgendes voraus:

  • Alle Werte des zu messenden Merkmals und des Messprozesses werden als Realisierungen unabhängig normalverteilter Zufallsvariablen aufgefasst.

Unter dieser Voraussetzung dürfen wir den Ansatz der einfachen Varianzaddition wählen: Die mit einem Messprozess beobachtete Gesamt-Varianz eines Merkmals ist die Summe der beiden Varianzkomponenten „wahre“ Varianz des zu messenden
Merkmals und Varianz des Messprozesses...


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